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X射线荧光光谱金属镀层测厚仪

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基本参数
服务项目 浏览量5 发布时间2015-10-30
品牌实谱 所在地江苏 苏州 起订≥1 台
供货总量未填 发货0天内发货 有效期至2025-03-09
展开
详细说明
    性能优势:
    超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面
    易于使用,一键操作
    有助于识别镀层成分和厚度
    机身结构小巧结实,外形美观,适合放置于陈列展室
    检测速度快,几十秒即可得到测试结果
    开放式操作系统,便于客户涉及报告模板
    安全防护措施,只有在封闭状态下才发生X射线,安全、可靠保证客户使用方便。
    技术参数:
    元素分析范围:从硫(S)到铀(U)
    同时分析几十种以上元素,五层镀层
    分析检测限可达2ppm,镀层分析可以最低0.005um厚度样品
    分析含量一般为1ppm到99.9%
    镀层厚度一般在50um以内(每种材料有所不同)
    任意多个可选择的分析和识别模型
    相互独立的基体效应校正模型
    多变量非线性回收程序
    多次测量重复性可达0.1%
    温度适应范围:15度到30度
    仪器配置:
    高压电源:0-50kv
    光管管流:0uA-1000uA
    滤光片:可选择多种定制切换
    探测器:Si-Pin/(SDD可选)
    多道分析器
    样品腔尺寸:310*280*60 (mm)
    外部尺寸:380*372*362
    重量: 29kg
     
    应用范围:
    电镀厂
    电子电器厂
    五金厂/标准件
    汽车部件
    质量技术监督局
    检测中心
     


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