X射线镀层膜厚测试仪

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美国博曼(BOWMAN) X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行，只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室，适合不同大小的样品，功能实用，准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。安全性能：通过美国PTB安全验证，符合美国最高安全法规标准。可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围：原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 准直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm或50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um或特别订造。Compact eco只配0.3mm或0.5mm 。自动测量功能：编程测量，自定测量修正测量功能：底材修正，已知样品修正综合性能：镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析镀层分析：可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。镀液分析：可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。定性定量分析：光谱表示，光谱比较，可定性分析20多种金属元素；并可合金成份分析，可定量分析成分含量。光谱对比功能：可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图，能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。